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显微反射膜厚仪MProbe MSP
产品概述 MProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy
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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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反射式膜厚测量仪FE-3000
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜
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安东帕 CAT²c/i涂层测厚仪 膜厚测量
仪器简介:球磨型膜厚磨损测试仪 球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并且低成本的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中,磨球与试样的相对
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显微分光膜厚仪OPTM 系列卓立汉光
使用显微分光膜厚仪测量薄膜厚度是十分便捷的。这款仪器集成了所需的功能,可以通过显微光谱法测量多层膜的绝对反射率和光学常数,测量速度极快,只需1秒钟。此外,它还具有广范围的光学系统(紫外至近红外)和
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Semiconsoft MProbe 膜厚测试仪
Semiconsoft MProbe 膜厚测试仪MProbe 让 你 成 为 测 量 专 家 !大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量:氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体
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OPTM 半导体膜厚测试仪
特长 Features· 膜厚测量中必要的功能集中于头部· 通过显微分光高精度测量绝对反射率(多层膜厚、光学常数)· 1点只需不到1秒的高速tact· 实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近
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Semiconsoft MProbe Vis膜厚测试仪
Semiconsoft MProbe Vis膜厚测试仪让你成为测量专家 !大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量:氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体(Si, aSi
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金属膜反射镜
: ◆反射特性曲线平坦,波长范围较宽,反射率高,价格便宜; ◆反射率受波长及入射角变化的影响小; ◆膜表面的机械硬度都不高,保护铝膜(Al+MgF2)可用含有有机溶剂的棉棒清洁,但纯铝
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紧凑型高精度反射膜厚仪
产品简介:SR-C系列紧凑型高精度反射膜厚仪,利用光学干涉原理,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱,快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。反射膜厚仪广泛应用于各种介质保护膜
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